示例 8：低电感大电流 SMD 电感

这款 5050 封装的电感采用分布式气隙粉末磁芯材料制成。初始测量值（280 nH）明显超过制造商标称值 220 nH。热允许有效电流规定为 66 ARMS，电感下降 20% 时的饱和电流为 68 A。

使用 LCR 表无法在没有专用测试适配器的情况下验证数据手册中关于 L0 的规格（220 nH @ 100 kHz，0.25 V）。即使使用经过仔细校准的测试适配器，这也很困难。实际初始电感 L0 系统性地大于规格值，这一点通过 Power Choke Tester DPG10 的测量得到了证实。
粉末磁芯材料的饱和曲线比带气隙的铁氧体磁芯平缓得多。这使得该磁芯材料在开关应用中更加可靠，即使在故障情况下电流远超额定电流时也是如此。即使在 200 A 时，该样品的电感仍超过 140 nH。

制造商规格与 Power Choke Tester DPG10 测量结果之间存在差异的主要原因是测量方法不同。Power Choke Tester DPG10 系列使用接近实际应用的矩形大信号测量脉冲，其幅度、频率和波形与实际应用中相同。制造商使用带直流偏置的 LCR 表，该表基于小信号测量，使用 µV 或 mV 范围的正弦电压和 µA 或 mA 范围的电流。这类测量信号通常不会出现在实际的电力电子应用中。然而，磁芯材料在这种不切实际的小信号测量中表现或多或少有所不同，在这种测量中，磁芯材料仅围绕直流工作点经历极小的磁滞回线。

然而，对于如此极小的电感值，测量装置几何结构中的微小差异也会产生不可忽视的影响。即使是元件测量点的微小偏差或电流馈入方式的差异（例如面接触或点接触）也可能导致不同的测量结果。为了获得可重复的测量结果，测量装置的几何结构必须始终完全相同。如果没有专用测量适配器，这是无法保证的，这就是我们开发 MABX 和 MABXSMD 测量适配器的原因。